可程式高低溫試驗箱技術規(guī)格：

設備型號    工作室尺寸（深×寬×高mm） 外形尺寸（深×寬×高mm） 

TH-50       320×350×450               790×800×1220 

TH-100      500×400×500               970×850×1320 

TH-150      500×500×600               980×932×1470 

TH-225      500×600×750               1003×1050×1570 

TH-250      520×620×780               1060×1080×1740 

TH-500      800×800×800               1282×1250×1380 

TH-800      800×1000×1000             1250×1500×1930 

TH-1000     1000×1000×1000            1450×1500×1930 

可程式高低溫試驗箱性能指標: 

溫度范圍: A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~130℃ D:-60℃~130℃ 

濕度范圍:20~98% R.H 

波動/均勻度:≤±0.5℃ /±2℃ 

溫度偏差:+2%、-3%R.H 

升溫時間:2℃~3℃/min （空載） 

降溫時間:0.7℃~1℃/min （空載） 

可程式高低溫試驗箱溫度控制系統(tǒng): 

控制器: 進口“TEMI880”微電腦溫度集成控制器（溫度直接顯示百分數） 

精度范圍:溫度±0.1℃ 

溫度傳感器:鉑金電阻 PT100Ω 

加熱系統(tǒng):鎳鉻合金電加熱式加熱器 

制冷系統(tǒng):全封閉風冷單級壓縮制冷/原裝法國“泰康”/全封閉風冷復疊壓縮制冷 

循環(huán)系統(tǒng):耐高溫低噪音離心式電機

可程式高低溫試驗箱驗收及執(zhí)行標準：

GB2423.1—93《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2—93《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗B：高溫試驗方法

GB2423.3－93《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗Ca：恒定濕熱試驗方法

   本廠具有25年紫外線老化試驗箱的生產經驗

來人選購。  

：   圖文傳真：  

手機：       ：  

：www.ytlrcjx.com      ：asLi898