半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱/廠價(jià)直銷
更新日期：2025-08-22
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簡要描述：半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)箱是
半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是 半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱型號(hào)與參數(shù)： 型號(hào) ：TH－100 TH－150 TH-225 TH-408 TH-800 TH-1000 工作尺寸 ：40×50×40 50×60×50 60×75×50 60×85×80 100×100×80 100×100×100 外型尺寸cm ：120×165×115 130×170×125 140×185×130 165×195×155 185×200×175 190×210×185 半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱溫度范圍：（A：+25℃； B：0℃；C：-20℃； D：-40℃；E：-60℃；F：-70℃）高溫:100℃（150℃） 符合標(biāo)準(zhǔn) 試驗(yàn)箱具有較寬的溫濕度調(diào)節(jié)控制范圍，可滿足標(biāo)準(zhǔn)本產(chǎn)品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法，試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96標(biāo)準(zhǔn)制造件，并可按軍標(biāo)試驗(yàn)要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非標(biāo)準(zhǔn)制作各種高低溫環(huán)境試驗(yàn) 半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱也可按客戶需要定制非標(biāo)試驗(yàn)箱： 溫度波動(dòng)度：±0.5℃ 溫度偏差： ≤±2℃ 濕度范圍：30～98% R＆#8226;H 濕度偏差： +2～-3% R＆#8226;H 升降溫平均速率： 0.7℃～1.0℃/min 時(shí)間設(shè)定范圍： 0～9999 小時(shí) 電源要求：AC380V 半導(dǎo)體高低溫老化試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)： 箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方 箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板 大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮 配直徑50mm的測(cè)試孔 免費(fèi)送貨上門，并安裝調(diào)試操作介紹（直到需方員工獨(dú)立操作并滿意為止） ：鐘, ：
