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本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC 68-2-11<基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程? 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法>(1981年三版).
1、主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)的鹽霧試驗(yàn)方法.
本標(biāo)準(zhǔn)適用于考核材料及其防護(hù)層的鹽霧腐蝕的能力,以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較
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恢復(fù):
試驗(yàn)結(jié)束后,用流動(dòng)水輕輕洗去試驗(yàn)樣品表面鹽沉積物,再在蒸餾水中漂洗,洗滌水溫不得超過35℃,然后在標(biāo)準(zhǔn)的恢復(fù)大氣條件下恢復(fù)1-2h,或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的其它恢復(fù)條件的恢復(fù)時(shí)間.
后檢測(cè):
恢復(fù)后的試驗(yàn)樣品應(yīng)及時(shí)進(jìn)行檢查,測(cè)試并記錄結(jié)果,檢查項(xiàng)目,試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定和合格要求均由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定.
引用標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)給出的細(xì)則
有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)采用鹽霧試驗(yàn)時(shí),應(yīng)對(duì)下列項(xiàng)目作出具休規(guī)定:
a. 初始檢測(cè)(見本標(biāo)準(zhǔn)6.1條)
b. 預(yù)處理(見本標(biāo)準(zhǔn)6.2條)
c. 安裝細(xì)節(jié)(見本標(biāo)準(zhǔn)6.3條)
d. 試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間(見本標(biāo)準(zhǔn)6.3條)
e.恢復(fù)(見本標(biāo)準(zhǔn)6.4條)
f.后檢測(cè)(見本標(biāo)準(zhǔn)6.5條)